Elektrónový mikroskop

Rastrovací elektrónový mikroskop ZEISS EVO LS 15 – mikroskop poskytujúci topografický obraz prirodzeného alebo arteficiálneho povrchu vzorky, prvkovú analýzu vzorky (EDS analýza), s možnosťou pozorovania hydratovaných vzoriek/bunkových kultúr v natívnom stave (enviromentálny mód) či orientačné zhodnotenie ultratenkých rezov v transmisii (STEM detektor).

Parametre mikroskopu

Vzorky určené pre využitie mikroskopu: materiálové a biologické vzorky

POZNÁMKY: Prístroj Leica EM CPD 300, Leica EM UC7 a komponenty Beam decelaration, cooling stage a suchá výveva boli zakúpené s podporou Vnútrofakultného grantu PROMEGA 032/22

Hoci mikroskop ZEISS EVO LS 15 má možnosť STEM detekcie pri pozorovaní v transmisii, nedosahuje rozlíšenie TEM ani FESEM, je prioritne určený na SEM modalitu.